new XRD
IP単結晶Ｘ線構造解析装置。
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XRD
粉末X線回折装置。合成した試料を単相であるか、またその結晶性などをチェックする。出力が高く粉末結晶の質の高いデータを得ることができる。低温から室温以上の高温まで幅広い温度範囲での測定が可能。 |
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TG-DTA & DSC
合成した試料の熱分析をする。重量分析＆DTAは室温から1500℃付近まで。また示差熱分析(DSC)は液体窒素温度以上から500℃程度までの測定が可能。 |
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RESISTIVITY
電気抵抗測定装置。4Kから700Kまでの幅広い温度領域での測定が可能。共同利用装置として所有しているPPMSでは1.8Kから400Kまでの範囲で測定可能で、磁場も9Tまで印加することができる。 |
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SQUID
帯磁率測定装置(SQUID)。1.8K〜700K、磁場は5Tまでの範囲で測定できる。 |
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HP TG-DTA
高酸素圧熱分析装置。100気圧もの高酸素圧でTG,DTAを測定できる、世界で一台の装置。 |
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OSHITARO
高圧抵抗測定装置。通称「圧太郎（おしたろう）」。 |
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TEM
透過型電子顕微鏡。10K前後から室温以上まで広い温度領域で測定可能。（共同利用装置） |
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SEM & EPMA
合成した試料の表面観察、化学組成分析に使う。（共同利用装置） |
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